[서울=뉴스핌] 이나영 기자= 반도체 및 디스플레이 측정장비 전문기업 HB솔루션이 한국기초과학지원연구원(KBSI)으로부터 차세대 반도체 수율 향상의 핵심인 '고분해능 열영상 현미경' 기술을 이전받으며 반도체 결함 검사 및 불량 분석(FA) 시장 공략에 본격 나선다고 27일 밝혔다.

회사에 따르면 이번에 확보한 열영상 현미경 기술은 반사율 변화를 이용해 전자소자의 미세 발열을 비접촉 방식으로 영상화하는 첨단 분석 기술이다. 기존 적외선(IR) 방식 현미경의 공간분해능 한계인 1~3µm를 넘어서는 세계 최고 수준의 300nm(0.3µm) 해상도를 구현한다.

특히 이는 초미세 공정이 적용된 반도체 소자의 내부 핫스팟(Hotspot)을 실시간으로 포착할 수 있는 정밀도로, 2.5D/3D 패키징 등 차세대 반도체 공정 엔지니어들의 요구사항을 충족하는 유일한 상용화 수준 기술로 평가받는다. 이번 기술 확보는 기존 외산 장비의 기술적 한계를 극복하고, 반도체 수율 향상의 핵심인 미세 발열 분석의 국산화 물꼬를 텄다는 점에서 중장기 성장의 전환점이 될 것으로 전망된다.

글로벌 시장 조사 기관(Grand View Research)에 따르면 전 세계 반도체 결함 검사 장비 시장은 2033년 약 122억 달러(한화 약 16조 원) 규모로 성장이 예상되며, 연평균 성장률(CAGR) 9%를 기록할 것으로 보인다.

또한 HB솔루션은 기존 주력 사업인 WLSI(백색광 간섭계) 및 SE/SR(타원계측) 기술을 통해 축적한 초정밀 광학 설계 역량에 이번 신기술을 결합하여 가파른 시너지를 낸다는 전략이다. 회사는 반도체뿐만 아니라 전력반도체(GaN/SiC), 2차전지, 디스플레이 등 미세 발열 제어가 필수적인 고부가가치 산업 전반으로 타겟 시장을 확장하여 중장기적으로 연간 3000억원 이상의 신규 매출 확보에 도전한다.

이재원 대표이사는 "이번 기술 도입은 에이치비솔루션이 반도체 미세 발열 분석이라는 독보적인 기술 영역을 선점하고 글로벌 계측 플랫폼 기업으로 도약하기 위한 실질적인 모멘텀이 될 것"이라며, "확보한 고분해능 분석 기술의 조기 상용화를 통해 외산 장비 의존도를 낮추고 핵심 고객사의 공정 수율 극대화에 기여하겠다"고 밝혔다.

한편 HB솔루션은 향후 1년 내 고객사 샘플 기반의 PoC(개념 검증)를 완료하고, 24개월 내 상용 장비 1호기를 출하하는 등 구체적인 기술 사업화 로드맵을 차질 없이 수행할 계획이다.

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